SEM5000 — это многофункциональный сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения на полевой эмиссии (FE-SEM, FEG SEM). Особенности: усовершенствованная конструкция колонны, технология высоковольтного туннелирования (SuperTunnel), конструкция магнитной линзы объектива с низкой аберрацией и защитой от утечек для получения изображения с высоким разрешением при низком напряжении, а также возможность применения магнитных образцов. Оптическая навигация, расширенные автоматические функции, продуманное взаимодействие пользователя с прибором и оптимизированная работа.
| Основные параметры | Разрешение |
1.0 нм при 15 кВ (SE) 1.5 нм при 1 кВ (SE) 0.8 нм при 30 кВ (STEM) |
| Ускоряющее напряжение | 20 В - 30 кВ | |
| Увеличение | 1 - 2 500000 x | |
| Тип источника электронов | автоэмиссионный катод Шоттки | |
| Работа с образцом | Вакуум | 5×10-4 Па |
| Диапазон перемещений столика | X：120 мм Y：115 мм Z： 50 мм T: -10° ~+90° R: 360° | |
| Программное обеспечение | Навигация | Оптическая навигация, быстрая навигация при помощи мыши |
| Детектор | Стандарт | Высокоугловой, встроенный в колонну детектор вторичных электронов Малоугловой боковой детектор вторичных электронов. |
| Опции | EDS, EBSD, SED, STEM и другие |
С этим товаром также ищут
Получить консультацию
Запросить стоимость
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами для уточнения вашей задачи
Спектрометры электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), магнетометры, электронные микроскопы
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
