Сканирующий зондовый микроскоп SPM 9700

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок можно наблюдать как на воздухе, так и в жидкости. Кроме того, с помощью кантилевера возможно исследование электрических и иных свойств, а также построение изображений слоистых структур и определение твердости. Поэтому можно сказать, что область применения микроскопа SPM-9700, как основного инструмента для нанотехнологий, чрезвычайно широка.

Объекты исследования (возможен анализ без пробоподготовки):
 

- металлы
 

- полупроводники
 

- керамика
 

- макромолекулы
 

- биологические объекты
 

Особенности
 

- Измерения в атмосфере воздуха с высоким разрешением;
 

- прямое исследование непроводящих материалов;
 

- высокоточное измерение высоты объектов;
 

- исследование физических свойств объекта в точке;
 

- модернизация до модели WET-SPM с камерой для контроля атмосферных условий;
 

- контроль состава атмосферы (наполнение необходимым газом камеры WET-SPM);
 

- контроль влажности; температурный контроль.
 

Опции
 

- Оптический микроскоп с цифровой камерой; волоконно-оптический осветитель, фазовый контраст;
 

- блоки широко/узкоформатного и глубинного сканирования;
 

- программа анализа распределения частиц по размерам;
 

- измерение микротвердости (LFM);
 

- двумерное картирование распределения эластичности и сил адгезии на поверхности образцов.