Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

Оформить заявку
  • Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JSM-7500F

JSM-7500F – растровый электронный микроскоп высокого разрешения с возможностью анализа углеродных наноматериалов и диэлектрических композитов на их основе без напыления проводящих покрытий на поверхность образца за счёт работы микроскопа в низковольтном режиме «Gentle Beam» (торможение электронов перед образцом и снижение энергии первичного пучка до 100 эВ). В JSM-7500F используется особый электростатический фильтр внутри объективной линзы (r-фильтр) для фильтрации по энергии регистрируемых электронов. С помощью этого фильтра обеспечивается формирование сигнала изображения SE, BE, SE+BE с управляемой пропорцией долей отражённых и вторичных электронов.

Микроскоп может быть укомплектован системой энергодисперсионного микроанализа производства фирмы JEOL.

  • характеристики
Тип источника электронов полевой эмиттер
Пространственное разрешение 0,1 нм
Энергия электронного луча от 100 эВ  до 30 кэВ
Увеличение до 1 000 000
Ток луча от 1 пА до 2 нА
Детекторы “верхний” детектор, “нижний” детектор, детектор
отраженных электронов
Аналитические приставки - опция система энергодисперсионного микроанализа, система текстурного анализа поликристаллических образцов
Максимальный размер образца до 203 мм в диаметре (предлагается в соответствие с запросом)
Столик образцов моторизован по всем 5-ти координатам в 
базовой конфигурации
Система вакуумной откачки турбомолекулярный насос
Система шлюзования обязательно включена (необходима консультация с поставщиком для правильного подбора)

 

Заявка на обратный звонок