Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

Оформить заявку
  • Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

JEM-2100 - аналитический электронный микроскоп, включающий не только базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, но также и систему компьютерного управления, в которую может интегрироваться устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300) и электронный спектрометр потерь энергии (СПЭ) в любой комбинации.


Особенности JEM-2100: 


- Высокая стабильность пучка. Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка вместе с превосходной электронно-оптической системой позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом)


- Новая конструкция шасси колонны. Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор

- Аналитический электронный микроскоп. В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24,1, что позволяет производить высокоточный анализ и быстрый набор данных микроанализа

- Столик образцов. Новый гониометрический столик образцов дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале


- Возможность модернизации 

- Основная компьютерная система позволяет осуществлять управление и сбор данных в режиме ПРЭМ, ЭДС-микроанализа и СПЭ, сохраняя при этом простоту управления всем аналитическим комплексом. Полученную информацию также можно передать по локальной сети на другие персональные компьютеры для дальнейшей ее обработки

  

  • характеристики
Возможные конфигурации (пользователем выбирается одна конфигурация из перечисленных при заказе прибора) сверхвысокое разрешение (URP); высокое разрешение (HRP); большие углы наклона (HTP); высокий контраст (HCP)
Тип эмиттера LaB6 (гексаборид лантана)
Разрешение по точкам HRP 0,23 нм
Разрешение по точкам URP 0,19 нм
Разрешение по точкам HTP 0,25 нм
Разрешение по точкам СRP 0,27 нм
Разрешение по точкам HCP 0,31 нм
Разрешение по линиям 0,14 нм
Просвечивающий сканирующий режим опция
Ускоряющее напряжение 80, 100, 120, 160, 200 кВ
Шаг ускоряющего напряжения 50 В
Диапазон увеличений от 2 000х до 1 500 000х
Возможные аналитические методы (опции) прямое изображение; дифракция в сходящемся пучке; дифракция от нанообласти; просвечивающая сканирующая микроскопия; энергодисперсионный микроанализ; спектроскопия характеристических потерь; трёхмерная томография; деформация, нагрев и охлаждение образца
Порты для ПЗС- и ТВ-камер порт бокового ввода под проекционным блоком линз и нижний осевой порт снизу фотокамеры

 

Заявка на обратный звонок